エックス線を利用した各種試験装置に関する次の記述のうち、誤っているものはどれか。…

「蛍光体を塗布した板の上に当てたときにできる蛍光像を観察」 →　エックス線透視（蛍光板による観察） こちらは物の形や欠陥を見るものです。元素は分かりません。「蛍光」という言葉が共通しているだけで、まったく別の装置です。 【ほかの選択肢】 (2) エックス線マイクロアナライザーは、細く絞った電子線束を 　　試料の微小部分に照射し、発生する特性エックス線を分光して 　　微小部分の元素を分析する　　　　　　　　　正しい (3) エックス線回折装置は、結晶質の物質にエックス線を照射する 　　と特有の回折像が得られることを利用して、結晶構造を解析 　　する　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　正しい (4) エックス線応力測定装置は、応力による結晶の面間隔の変化を 　　回折を利用して調べ、残留応力を測定する　　正しい (5) 散乱型厚さ計は、後方散乱線の強度が厚さに応じて変化する 　　ことを利用した装置　　　　　　　　　　　　　　正しい 【元素分析の二つの装置】 蛍光エックス線分析装置　　当てるのはエックス線 マイクロアナライザー　　　当てるのは電子線 どちらも特性エックス線を測りますが、当てるものが違います。電子線は細く絞れるので、ごく狭い範囲を調べられます。 【回折を使う二つの装置】 エックス線回折装置　　　　結晶構造を調べる エックス線応力測定装置　　面間隔の変化から応力を調べる どちらも回折が原理です。