エックス線を利用した各種試験装置に関する次の記述のうち、誤っているものはどれか。…
エックス線の管理に関する知識 第6問
エックス線を利用した各種試験装置に関する次の記述のうち、誤っているものはどれか。
- (1)蛍光エックス線分析装置は、物質を透過したエックス線を蛍光体を塗布した板の上に当てたときにできる蛍光像を観察することによって、物質の欠陥の程度などを識別する装置である。
- (2)エックス線マイクロアナライザーは、細く絞った電子線束を試料の微小部分に照射し、発生する特性エックス線を分光することによって、微小部分の元素を分析する装置である。
- (3)エックス線回折装置は、結晶質の物質にエックス線を照射すると特有の回折像が得られることを利用して、物質の結晶構造を解析し、物質の性質を調べる装置である。
- (4)エックス線応力測定装置は、応力による結晶の面間隔の変化をエックス線の回折を利用して調べることにより、物質内の残留応力の大きさを測定する装置である。
- (5)散乱型厚さ計は、被検査物体にエックス線を照射したときに発生する後方散乱線の強度が、被検査物体の厚さに応じて変化することを利用した装置である。
正答 (1)
正答は (1) です。
この設問は「適切でないもの」を選ぶ形式です。つまり 「蛍光エックス線分析装置は、物質を透過したエックス線を蛍光体を塗布した板の上に当てたときにできる蛍光像を観察することによって、物質の欠陥の程度などを識別する装置である。」 という記述に誤りが含まれており、残りの選択肢は適切な記述として扱われています。
※ どこがどう誤りなのかまで踏み込んだ解説は準備中です。
エックス線作業主任者 2025年上半期実施分（2025年10月掲載／公益財団法人 安全衛生技術試験協会 公表試験問題）