エックス線を利用した各種試験装置に関する次の記述のうち、誤っているものはどれか。…
エックス線の管理に関する知識 第8問
エックス線を利用した各種試験装置に関する次の記述のうち、誤っているものはどれか。
- (1)蛍光エックス線分析装置は、試料にエックス線を照射して発生した特性エックス線(蛍光エックス線)の波長を分析し、又はエネルギーを測定することによって、元素分析を行う装置である。
- (2)エックス線マイクロアナライザーは、細く絞ったエックス線を物質に照射すると特有の回折像が得られることを利用して、物質の結晶構造を解析する装置である。
- (3)散乱型厚さ計は、被検査物体にエックス線を照射したときに発生する後方散乱線の強度が、被検査物体の厚さに応じて変化することを利用した装置である。
- (4)エックス線応力測定装置は、応力による結晶の面間隔の変化をエックス線の回折を利用して調べることにより、物質内の残留応力の大きさを測定する装置である。
- (5)エックス線透過試験装置は、被検査物体を透過したエックス線による画像を観察する装置で、画像の検出にはフィルムなどが用いられる。
正答 (2)
正答は (2) です。
この設問は「適切でないもの」を選ぶ形式です。つまり 「エックス線マイクロアナライザーは、細く絞ったエックス線を物質に照射すると特有の回折像が得られることを利用して、物質の結晶構造を解析する装置である。」 という記述に誤りが含まれており、残りの選択肢は適切な記述として扱われています。
※ どこがどう誤りなのかまで踏み込んだ解説は準備中です。
エックス線作業主任者 2025年下半期実施分（2026年4月掲載／公益財団法人 安全衛生技術試験協会 公表試験問題）