エックス線を利用した各種試験装置に関する次の記述のうち、誤っているものはどれか。…
エックス線の管理に関する知識 第8問
エックス線を利用した各種試験装置に関する次の記述のうち、誤っているものはどれか。
- (1)蛍光エックス線分析装置は、試料にエックス線を照射して発生した特性エックス線(蛍光エックス線)の波長を分析し、又はエネルギーを測定することによって、元素分析を行う装置である。
- (2)エックス線マイクロアナライザーは、細く絞ったエックス線を物質に照射すると特有の回折像が得られることを利用して、物質の結晶構造を解析する装置である。
- (3)散乱型厚さ計は、被検査物体にエックス線を照射したときに発生する後方散乱線の強度が、被検査物体の厚さに応じて変化することを利用した装置である。
- (4)エックス線応力測定装置は、応力による結晶の面間隔の変化をエックス線の回折を利用して調べることにより、物質内の残留応力の大きさを測定する装置である。
- (5)エックス線透過試験装置は、被検査物体を透過したエックス線による画像を観察する装置で、画像の検出にはフィルムなどが用いられる。
正答 (2)
正答は (2)。これが誤りです。
細く絞ったエックス線を物質に照射して回折像から結晶構造を解析するのは、エックス線回折装置です。エックス線マイクロアナライザーは、細く絞った電子線を照射して、発生する特性エックス線から元素分析を行う装置です。
【二つを分ける】
エックス線マイクロアナライザー
当てるもの 電子線
測るもの 特性エックス線
分かること 元素の種類と分布(微小部の元素分析)
エックス線回折装置
当てるもの エックス線
測るもの 回折像
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分かること 結晶構造
「マイクロアナライザー」は微小部の分析器という意味です。分析=元素分析であり、結晶構造の解析ではありません。
【ほかの選択肢】
(1) 蛍光エックス線分析装置は、試料にエックス線を照射して
発生した特性エックス線(蛍光エックス線)の波長を分析し、
又はエネルギーを測定して元素分析を行う 正しい
(3) 散乱型厚さ計は、後方散乱線の強度が被検査物体の厚さに
応じて変化することを利用した装置 正しい
(4) エックス線応力測定装置は、応力による結晶の面間隔の変化
をエックス線の回折を利用して調べ、残留応力を測定する
正しい
(5) エックス線透過試験装置は、被検査物体を透過したエックス線
による画像を観察する装置 正しい
【蛍光エックス線分析とマイクロアナライザー】
どちらも特性エックス線を測って元素を知る
違うのは当てるものです。
蛍光エックス線分析 → エックス線を当てる
マイクロアナライザー → 電子線を当てる
電子線は細く絞れるので、ごく狭い範囲を調べられます。
【二つの厚さ計】
透過型厚さ計 透過線の強度を測る
散乱型厚さ計 後方散乱線の強度を測る
散乱型は、片側からしか近づけない場合に使えます。
出典:エックス線作業主任者 2025年下半期実施分(2026年4月掲載/公益財団法人 安全衛生技術試験協会 公表試験問題)出典元ページ
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最終更新日
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