非破壊検査に関する記述で次のうち正しいものはどれか。…
専門（機体構造） 第8問
非破壊検査に関する記述で次のうち正しいものはどれか。
- (1)磁粉探傷検査は表面下の浅い位置にある欠陥の検出ができる。
- (2)磁粉探傷検査の軸通電法は、丸棒の軸方向および円周方向の欠陥の検出ができる。
- (3)浸透探傷検査では、試験品の表面粗さの影響は受けない。
- (4)電磁誘導検査は、深い位置にある欠陥の検出ができる。
正答 (1)
正答は (1) です。
この設問は「適切なもの」を選ぶ形式です。つまり 「磁粉探傷検査は表面下の浅い位置にある欠陥の検出ができる。」が正しい内容で、残りの選択肢には誤りが含まれています。
出典：令和3年3月期 航空従事者学科試験 航空工場整備士 専門（機体構造） 問8（国土交通省 公表）出典元ページ
最終更新日
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