エックス線を利用する装置とその原理との組合せとして、誤っているものは次のうちどれか。…

分光　　　　蛍光エックス線分析装置、 　　　　　　　　エックス線マイクロアナライザー 散乱　　　　散乱型厚さ計 【ほかの選択肢】 (1) エックス線応力測定装置　→　回折　　　正しい (3) 蛍光エックス線分析装置　→　分光　　　正しい (4) エックス線マイクロアナライザー　→　分光 　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　正しい (5) エックス線厚さ計　→　散乱　　　　　　正しい 【回折を使う装置の共通点】 結晶を相手にしている 結晶に当てると、原子の並びに応じて決まった方向に強く反射します（回折）。だから、結晶構造や面間隔を調べられます。 回折装置　　　　結晶構造そのもの 応力測定装置　　応力による面間隔の変化 単結晶方位測定装置　結晶の向き ＣＴ装置が相手にするのは、人体や工業製品といった結晶ではないものです。回折像は得られません。 【分光を使う装置の共通点】 特性エックス線を波長ごとに分けて測る 元素はそれぞれ固有の波長の特性エックス線を出すので、元素分析ができます。違うのは当てるもので、蛍光エックス線分析装置はエックス線、マイクロアナライザーは電子線です。 【二つの厚さ計】 透過型厚さ計　　透過線の強度を測る 散乱型厚さ計　　後方散乱線の強度を測る 散乱型は、片側からしか近づけない場合に使えます。