エックス線を利用する装置とその原理との組合せとして、誤っているものは次のうちどれか。…

散乱　　　　散乱型厚さ計 【分光とは】 波長（エネルギー）ごとに分けて測る 元素はそれぞれ固有の波長の特性エックス線を出します。波長を分けて測れば、どの元素がどれだけあるかが分かります。 【なぜ「散乱」ではないのか】 マイクロアナライザーが測るのは、試料から新たに出てくる 特性エックス線 散乱は、入ってきた放射線が向きを変えて出てくる現象です。マイクロアナライザーでは、当てるのは電子線で、出てくるのはエックス線。まったく別のものですから、散乱ではありません。 【ほかの選択肢】 (2) エックス線単結晶方位測定装置　→　回折　正しい (3) 蛍光エックス線分析装置　　　　→　分光　正しい (4) エックス線応力測定装置　　　　→　回折　正しい (5) エックス線ＣＴ装置　　　　　　→　透過　正しい 【(3)との読み比べ】 (3)　蛍光エックス線分析装置　→　分光 蛍光エックス線分析とマイクロアナライザーは、どちらも特性エックス線を測って元素を知る装置です。違うのは当てるものだけで、測り方は同じ分光です。 蛍光エックス線分析　→　エックス線を当てる マイクロアナライザー　→　電子線を当てる 【回折を使う装置】 結晶に当てると、決まった方向に強く反射する（回折） 回折装置　　　　　結晶構造を調べる 単結晶方位測定装置　結晶の向きを調べる 応力測定装置　　　面間隔の変化から残留応力を調べる 【散乱型厚さ計】 後方散乱線の強度が厚さに応じて変化することを利用 片側からしか近づけない場合に使えます。