エックス線の利用に関する次のＡからＤの記述について、正しいものの全ての組合せは(１)〜(５)のうちどれか。…

　　被検査物体にエックス線を当て、透過線の強さの違いから 　　内部の構造を調べる Ｃ　後方散乱を利用する検査 　　フィルムや検出器を、物体の裏側ではなく 　　エックス線源と同じ側に置く Ｄ　エックス線回折によるひずみの測定 　　結晶の格子間隔のずれを、回折の角度の変化から読む 【Ｃが成り立つわけ】 裏側に回り込めないほど大きい物や、片側からしか近づけない 構造物でも調べられる 橋やタンクのように、裏に回れない対象で使われます。 【エックス線を使う装置の整理】 透過撮影　　　透過した線の強さ　→　内部の構造 後方散乱　　　跳ね返った線　　　→　片側だけで検査 蛍光分析　　　特性エックス線　　→　含まれる元素 回折　　　　　回折の角度　　　　→　結晶構造、ひずみ マイクロアナライザー　細く絞った線　→　微小部分の元素 この五つは、何を測って何が分かるかの対応で問われます。「特性エックス線」と来たら元素の種類、「回折」と来たら結晶の並び、と結びつけておきます。