走査型電子顕微鏡標本の作製工程に含まれないのはどれか。…

正答は (1)。超薄切は走査型電子顕微鏡の標本作製には含まれません。 走査型電子顕微鏡（SEM）は、試料の表面に電子線を当てて、出てくる二次電子で表面の立体的な形を観察します。切片を作る必要はなく、試料のかたまりをそのまま使います。 固定（グルタルアルデヒド → オスミウム酸）→ タンニン酸などでの導電染色 → 脱水 → 乾燥（臨界点乾燥や t-ブタノール凍結乾燥） → 金属の蒸着（イオンスパッタなど）→ 観察 超薄切（厚さ 100 nm 前後の切片を作ること）は、電子線を試料に透過させて内部の構造を見る透過型電子顕微鏡（TEM）の標本で行います。